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J-GLOBAL ID：200903068015386729

中性子検出器の試験システム

Inventor： 大木戸 文康 ,  有田 節男
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997322696
Publication number (International publication number)：1999153690
Application date： Nov. 25, 1997
Publication date： Jun. 08, 1999
Summary：

【要約】【課題】試験ツールを用いた中性子検出器の試験で、試験ツールと中性子検出器の接続替えの操作を省くことにある。【解決手段】中性子検出器1-1〜1-nの出力ケーブル2-1〜2-nに切換回路3-1〜3-nを介してAPRM盤4の入力回路40-1〜40-n、及び試験ツール5の試験処理回路50を接続し、試験時には切換制御部55からの制御信号S1〜Snを出力し試験対象の中性子検出器が接続されている切換回路の接点を切り換えて試験処理回路50と接続し、メインコントローラ51の指令により中性子検出器の試験を実行し得たデータを中性子検出器個別に集計する。

Claim (excerpt)：

複数の中性子検出器の出力信号を平均演算する平均演算装置に接続された上記中性子検出器に試験ツールを接続し該試験ツールによって、上記中性子検出器を試験する中性子検出器の試験システムにおいて、上記中性子検出器の出力を上記平均演算装置と上記試験ツールの何れか一方に接続する切換手段と、上記試験ツールによって制御され上記切換手段に対して接続状態を指定する切換信号を出力する切換制御手段と、該切換制御手段の切換信号から上記切換手段によって上記試験ツールに接続された試験対象の中性子検出器を特定する接続状態判定手段を設け、該接続状態判定手段が特定した上記試験対象の中性子検出器の出力信号を上記平均演算装置による平均演算から除外し、上記試験ツールで該試験ツールに接続された中性子検出器を試験することを特徴とした中性子検出器の試験システム。

IPC (2)：

G21C 17/00 GDB ,  G01T 3/00

FI (2)：

G21C 17/00 GDB K ,  G01T 3/00 D