Pat
J-GLOBAL ID：200903068125178714
インサーキットテスタ
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 明夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997059080
Publication number (International publication number)：1998253716
Application date： Mar. 13, 1997
Publication date： Sep. 25, 1998
Summary：
【要約】【課題】NCデータによってプローブピンが移動してテストを行うインサーキットテスタにおいて、人手によるテストプログラムの確認を必要とせず且つ安全にプリント基板のテストを行うことのできる改良された部品干渉防止機構を有するインサーキットテスタを提供することにある。【解決手段】プリント基板ガイドブロック7に固定されたプリント基板1の上方に、X-Y2軸ロボット3により水平方向へ走査移動できる機構を備えた距離測定センサ2を配し、これをX-Y2次元走査することによりプリント基板1の全面の凹凸を検出し、部品実装位置データから凹凸に対する部品が実装されている領域と実装されていない領域とを判別して、プローブピン5の下降軌道上に対して実装部品10の有無を検出することでテストポイント9に対して実装部品10に干渉しないプローブピン取付けユニット4を自動選択し、プローブピン5を下降させてテストを行う。
Claim (excerpt)：
X軸上をそれぞれ独立して走行し得る複数のY軸と、各Y軸上をそれぞれ独立して走行し得るZ軸との3軸ロボットから構成され、Z軸を構成するプローブピン取付けユニットには、プローブピンがZ軸に対して所定の角度でガイドブロック上に載置固定されたプリント板上を昇降し得るプローブピン昇降ユニットが配設され、NCデータによってX-Y2軸ロボットを走査移動し、プローブピン昇降ユニットに保持されたプローブピンのプリント板上の平面位置決を行うと共に、Z軸ロボットを動作させてプローブピンをZ軸に対して所定角度で昇降移動させ、その先端をプリント板のテストポイントに接触させることによって電子部品を実装したプリント板の電気的なテストを行うインサーキットテスタであって、プローブピン取付けユニットを介して配設されるプローブピン昇降ユニットは、互いに相対向隣接するプローブピン同士がZ軸に対し所定の角度で内側に傾斜した状態でプリント板上を互いに独立に昇降移動できる機構を備え、さらにY軸にはプリント基板表面の凹凸を測定する距離測定センサを配設すると共に、距離測定センサによってプリント基板表面の凹凸を実測し、プリント基板上の部品実装位置データから部品実装領域とこの部品実装領域を除く他の領域とを判別することでプローブピン下降軌道上の実装部品の有無を検出し、この検出出力によってプローブピンが実装部品に接触しない方のプローブピン昇降ユニットを選択する制御手段を配設して成るインサーキットテスタ。
IPC (4)：
G01R 31/28
, G01R 1/06
, G01R 31/02
, H05K 13/08
G01R 31/28 K
, G01R 1/06 E
, G01R 31/02
, H05K 13/08 D
