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J-GLOBAL ID：200903068130476863

プラント診断装置

Inventor： 影山 隆夫 ,  高吉 修吾
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝 ,  東芝エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 紋田 誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996194150
Publication number (International publication number)：1998020925
Application date： Jul. 05, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 不具合発生時の異常の起点及び伝播経路の探索を自動的に速やかに行い、さらには、異常事象名とその原因並びに対処法に関する精度の高い情報を提供することができるプラント診断装置を得ることである。【解決手段】 観測信号を分割した各々の周波数帯における現時点を含む観測時間での観測データn個の標準偏差をRMS演算部5で求め、その標準偏差RMSが正常時データの標準偏差に所定の正数を乗じて決定される第1の閾値を超えたと異常徴候発生判定部7により判定されたときは、標準偏差が正常時データの標準偏差に所定の正数を乗じることによって別途設定される第2の閾値を超える日時を、不具合発生日時推定部8は標準偏差の時間推移に基づいて推定する。

Claim (excerpt)：

観測信号を所定の複数の周波数帯に分割しその周波数帯における現時点を含む観測時間での観測データn個の標準偏差を算出するRMS演算部と、前記標準偏差が第1の閾値を越えたときは異常徴候の発生と判定する異常徴候発生判定部と、前記異常徴候の発生が検出されたときは前記標準偏差の時間推移に基づいて前記標準偏差が第2の閾値を越える日時を推定し不具合発生日時として出力する不具合発生日時推定部とを備えたことを特徴とするプラント診断装置。

IPC (3)：

G05B 23/02 ,  G21C 17/00 ,  G21D 3/04

FI (3)：

G05B 23/02 T ,  G21D 3/04 B ,  G21C 17/00 P