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J-GLOBAL ID：200903068138630780

被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置

Inventor： 今野 明
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 小池 晃 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992059107
Publication number (International publication number)：1993223879
Application date： Feb. 14, 1992
Publication date： Sep. 03, 1993
Summary：

【要約】【構成】 絶縁被覆された導体を巻回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイル6のショート検出方法において、上記被測定コイル6と巻線を巻回してなるコイル2とを非接触状態で対向配置し、該巻線を巻回してなるコイル2の損失率により被測定コイル6のショート状態を検出する。【効果】 被測定コイルのショート状態を非接触にて簡単に且つ正確に検出することができる。

Claim (excerpt)：

絶縁被覆された導体を巻回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイルのショート検出方法において、上記被測定コイルと巻線を巻回してなるコイルとを非接触状態で対向配置し、該巻線を巻回してなるコイルの損失率により被測定コイルのショート状態を検出することを特徴とする被測定コイルのショート検出方法。