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J-GLOBAL ID：200903068245742052
地質評価装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
柳田 良徳 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993293715
Publication number (International publication number)：1995146232
Application date： Nov. 24, 1993
Publication date： Jun. 06, 1995
Summary：
【要約】【目的】 地質すなわち地盤や岩盤の状況を客観的にかつ精度良く評価し得る有効な手段を提供する。【構成】 切羽1等の地質を評価するべき対象面に検査光を照射する光源4と、その検査光の反射光を受光してスペクトル分析するための分光器5と、それら光源および分光器を支持して評価対象面に沿って移動させるアーム3等の走査手段と、分光器による分析結果に基づき地質を評価するコンピュータ6等の評価手段とを具備する。
Claim (excerpt)：
地盤や岩盤の表面を観察してその状況を評価する地質評価装置であって、評価対象面に検査光を照射する光源と、その検査光の反射光を受光してスペクトル分析するための分光器と、それら光源および分光器を支持して評価対象面に沿って移動させる走査手段と、前記分光器による分析結果に基づき地質を評価する評価手段とを具備してなることを特徴とする地質評価装置。
IPC (2)：
G01N 21/27
, E21D 9/06 301
