Pat
J-GLOBAL ID:200903068249416729

技術システムのパラメータをもとめるための方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 矢野 敏雄 (外4名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000578968
Publication number (International publication number):2002528778
Application date: Oct. 14, 1999
Publication date: Sep. 03, 2002
Summary:
【要約】技術システムのパラメータをもとめるための方法が決定される。この方法によって出力信号が重畳された統計的に互いに独立した入力信号の集合からもとめられる。出力信号の統計的独立性が最大化されるようにパラメータがもとめられる。
Claim (excerpt):
技術システムのパラメータをもとめるための方法において、該方法によって出力信号が重畳された統計的に互いに独立した入力信号の集合からもとめられ、前記方法において前記出力信号の統計的独立性が最大化されるようにパラメータがもとめられる、技術システムのパラメータをもとめるための方法。
IPC (8):
G10L 15/20 ,  G06F 17/10 ,  G06F 17/18 ,  G06N 3/00 560 ,  G10L 15/02 ,  G10L 15/16 ,  G10L 21/02 ,  H04L 25/03
FI (8):
G06F 17/10 D ,  G06F 17/18 Z ,  G06N 3/00 560 G ,  H04L 25/03 C ,  G10L 3/02 301 D ,  G10L 9/00 F ,  G10L 9/00 301 A ,  G10L 3/00 539
F-Term (9):
5B056BB28 ,  5B056HH05 ,  5D015CC05 ,  5D015CC18 ,  5D015JJ00 ,  5K029AA03 ,  5K029AA11 ,  5K029DD23 ,  5K029GG05

Return to Previous Page