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J-GLOBAL ID：200903068252423035

SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置

Inventor： 飯田 順子
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994292301
Publication number (International publication number)：1996129002
Application date： Oct. 31, 1994
Publication date： May. 21, 1996
Summary：

【要約】【目的】 分析対象に応じて最適なデュエルタイム及びサイクルタイムを自動的に設定する。【構成】 スキャンモード分析で得たマススペクトルより、各目的化合物イオンのマスクロマトグラムを作成し、そのピークのS/N比に基づいてターゲットイオン及び参照イオンを決定する。また、全目的化合物のターゲットイオンのピーク強度の比と検出限界の比に基づき、両イオンのデュエルタイムを算出する。

Claim (excerpt)：

試料中の分析目的化合物の各々に対して定量計算の基礎とするターゲットイオンと化合物確認のための参照イオンとを定めておき、クロマトグラフ装置により成分分離された試料に対して、質量分析装置においてターゲットイオン及び参照イオン毎に定められたデュエルタイムの間だけ各イオンの検出を行なうことにより定量分析を行なう、SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置において、a)クロマトグラフ装置を通過した試料に対して質量分析装置において短時間毎に繰り返し質量走査することにより、短時間毎のマススペクトルを採取するマススペクトル採取手段と、b)マススペクトルのデータより、目的化合物のイオンのマスクロマトグラムを作成するマスクロマトグラム作成手段と、c)各目的化合物毎に、そのイオンのマスクロマトグラムのピークのS/N比に基づきターゲットイオン及び参照イオンを決定するモニタイオン決定手段と、d)全目的化合物のターゲットイオンのピーク強度の比と検出限界の比に基づき、ターゲットイオンと参照イオンのデュエルタイムを算出するデュエルタイム決定手段と、を備えることを特徴とする、SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/26