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J-GLOBAL ID:200903068287592336

マイクロ波式濃度測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 富士弥 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998215000
Publication number (International publication number):2000046757
Application date: Jul. 30, 1998
Publication date: Feb. 18, 2000
Summary:
【要約】【課題】 懸濁物質混合液に向けて照射するマイクロ波の反射強度又は透過強度を検出して懸濁物質の濃度測定を行うのでは、導波管の伝送特性の微妙な変化で測定誤差が大きくなる。懸濁物質混合液の温度や導電率の変化も測定精度に影響する。【解決手段】 マイクロ波の周波数を走査し(S1)、各周波数に対する反射強度又は透過強度の特性を求め(S2)、この特性から各周波数における反射強度又は透過強度の特性の和(積分値又は平均値)を求め(S3)、これを検量線と比較することで懸濁物質の濃度を求める(S4,S5)。懸濁物質混合液の温度又は導電率を変えてマイクロ波の周波数を走査したときの各周波数における反射強度又は透過強度の特性の和を補正特性として求め、この特性から懸濁物質混合液の温度又は導電率の変化に応じて濃度測定値の補正を行うことも含む。
Claim (excerpt):
懸濁物質混合液に向けて照射するマイクロ波の反射強度又は透過強度を検出して懸濁物質の濃度測定を行うマイクロ波式濃度測定方法において、前記マイクロ波の周波数を走査し、前記各周波数に対する反射強度又は透過強度の特性を求め、前記特性から各周波数における反射強度又は透過強度の積分値又は平均値を求め、前記積分値又は平均値とマイクロ波の検量線と比較することで懸濁物質の濃度を求めることを特徴とするマイクロ波式濃度測定方法。
IPC (2):
G01N 22/00 ,  G01N 22/04
FI (3):
G01N 22/00 X ,  G01N 22/00 N ,  G01N 22/04 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開平1-262439
  • 濃度計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-045613   Applicant:東京都, 株式会社東芝
  • 集塵機の異常検出方法とその異常検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-328488   Applicant:株式会社神戸製鋼所
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