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J-GLOBAL ID：200903068299150045

遺伝子解析方法および装置

Inventor： 藤田 毅 ,  梅村 晋一郎 ,  木山 政晴
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 薄田 利幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995267362
Publication number (International publication number)：1996187098
Application date： Oct. 16, 1995
Publication date： Jul. 23, 1996
Summary：

【要約】【課題】 目的遺伝子配列の存在の有無、存在量や配列特徴を高感度に得ることが可能で、かつ前処理から遺伝子情報の獲得、解析に至るまでの全過程が、簡便な装置構成および操作により高速に実現可能な方法および装置を提供すること。【解決手段】 目標とする遺伝子領域の一本鎖DNAを調製し、変性条件制御手段によって該一本鎖DNA断片の高次構造の変性条件を変化させながら、該一本鎖DNA断片試料の吸光度変化を計測し、該変性条件変化に対する該吸光度変化の曲線を解析することによって、該一本鎖DNAの配列情報すなわち目標とする遺伝子配列情報を、迅速かつ簡便に得る。

Claim (excerpt)：

検体二本鎖DNA断片から一本鎖DNA断片を準備すること、該一本鎖DNA断片の高次構造を所定の変性条件によって変性させること、該変性条件と変性の結果との関係を示す変性曲線データを得ること、該変性曲線データと前記検体二本鎖DNA断片に対応する既知の多型二本鎖DNA断片から得られた一本鎖DNA断片による高次構造が変性するときの変性条件による変性曲線データを比較することとよりなり、該比較結果から前記検体二本鎖DNA断片を前記既知の多型二本鎖DNA断片との対応関係に応じて表示することを特徴とする遺伝子解析方法。

IPC (6)：

C12Q 1/68 ,  C07H 21/04 ,  C12M 1/00 ,  C12N 15/09 ,  G01N 33/50 ,  G06F 17/60

FI (2)：

C12N 15/00 A ,  G06F 15/21 Z