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J-GLOBAL ID:200903068356395602

マイクロミラー式画像形成装置及びその管理方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小林 和憲
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996041266
Publication number (International publication number):1997229818
Application date: Feb. 28, 1996
Publication date: Sep. 05, 1997
Summary:
【要約】【課題】 各マイクロミラーの動作状況をモニタして、欠陥マイクロミラーの検出や反射率等を測定する。【解決手段】 デジタルマイクロミラー装置10には、マイクロミラーがマトリクスに配置されている。各マイクロミラーは、ミラー駆動データに応じて有効反射状態と無効反射状態に変位する。有効反射状態のときには、反射したスポット光が画像形成光路32に入り、印画紙34を露光する。無効反射状態のときには、反射したスポット光が除去光路27に入る。この除去光路27には、スポット光を測光する受光素子29が配置されている。マイクロミラーを1個ずつ無効反射状態にセットし、その反射光を受光素子29で測定することで、マイクロミラーの欠陥の有無や反射率を調べる。全てのマイクロミラーを同時に無効反射状態にセットし、受光素子の出力を調べることで、光源の光量の適否を調べる。
Claim (excerpt):
複数のマイクロミラーを配列したマイクロミラー装置と、このマイクロミラー装置に光を照射する光源とを備え、各マイクロミラーは画像形成光路に向けて光を反射する有効反射状態と、除去光路に向けて光を反射する無効反射状態とに変位可能であるマイクロミラー式画像形成装置において、前記無効反射状態のマイクロミラーで反射された光を測定するための測光部を除去光路に配置したことを特徴とするマイクロミラー式画像形成装置。
IPC (5):
G01M 11/00 ,  B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455 ,  G02B 26/08
FI (3):
G01M 11/00 T ,  G02B 26/08 E ,  B41J 3/21 L
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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