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J-GLOBAL ID：200903068444042140

粘弾性測定装置および粘弾性測定方法

Inventor：
関根 正裕

About 関根 正裕

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荻野 重人

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深澤 弘

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田中 康一

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Applicant, Patent owner：
埼玉県

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有限会社サンズコーポレーション

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Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003372299
Publication number (International publication number)：2005134295
Application date： Oct. 31, 2003
Publication date： May. 26, 2005
Summary：
【課題】超磁歪素子を利用して測定対象となる試料に所定の波形の振動を与えて試料の応力を検出し、試料の粘弾性に関する指標値を算出する粘弾性測定装置および粘弾性測定方法を提供することを課題とする。【解決手段】本発明にかかる粘弾性測定装置は、超磁歪素子100と、試料101を挟むように配設される試料保持部102および試料保持部103と、電流を供給する電流供給部104と、電流を入力して磁界を発生する磁界発生部105と、超磁歪素子100の変位を試料保持部102に伝達する変位伝達部106と、試料保持部102の変位量を検出する変位量検出部107と、試料101から試料保持部103に作用する力を応力値として検出する応力検出部108と、供給された電流値を検出する電流検出部109と、超磁歪素子100の変位量の制御機能および試料101の粘弾性に関する指標値の測定機能を備えるコンピュータ20と、で構成される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
測定対象となる試料に所定の波形の振動を与えて上記試料の応力を検出し、上記試料の粘弾性に関する指標値を算出する粘弾性測定装置において、 磁界の変化で変位する超磁歪素子と、 上記超磁歪素子に磁界をかけて変位させる超磁歪素子変位手段と、 上記超磁歪素子の変位を上記試料に伝達する変位伝達手段と、 上記試料に伝達される変位量を上記試料近傍で検出する変位量検出手段と、 上記変位量検出手段で検出した変位量に基づいて上記所定の波形を生成するための目標となる制御値を算出する制御値算出手段と、 上記制御値算出手段で算出した制御値に基づいて上記超磁歪素子変位手段を制御する制御手段と、 を備え、 上記制御手段は、上記制御値算出手段で算出した制御値に基づいて上記超磁歪素子変位手段を制御し、上記制御値が予め定めた目標制御値となるようにフィードバック制御を行うこと、 を特徴とする粘弾性測定装置。
IPC (1)：
G01N19/00
FI (1)：
G01N19/00 B
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (12)
  • 液体物性測定装置および測定方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-065293   Applicant：セイコーエプソン株式会社
  • 超磁歪アクチュエータ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-241830   Applicant：株式会社モリテックス
  • クリープ試験機
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-276636   Applicant：株式会社神戸工業試験場, トヨタ自動車株式会社
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