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J-GLOBAL ID：200903068445499985

故障診断方法

Inventor： 津山 努 ,  恒川 佳世 ,  佐藤 茂 ,  下社 貞夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993260614
Publication number (International publication number)：1995114484
Application date： Oct. 19, 1993
Publication date： May. 02, 1995
Summary：

【要約】【目的】 機器の故障診断を故障現場でも行えるようにして、より迅速に故障診断を行い、しかも、FTの構築をより容易ならしめ、故障診断データの一元管理が可能にする。また、故障の因果関係を用いた樹木を用いて診断をおこなう場合に、その樹木をわかりやすく表示し、より操作性を良くし、初心者でも操作可能にする。【構成】 機器の故障データを用いて故障診断をおこなう方法において、前記故障データを携帯用コンピュータで前処理をおこない、ホストコンピュータで後処理をおこなう垂直分散システムでシステムを構成する。また、故障の因果関係を表した樹木の各節をカテゴリーに分類して、各節に対応する表示項目をグループとして表示装置に表示する。

Claim (excerpt)：

計算機システムにより、収集された機器の故障データを参照することにより故障診断をおこなう方法において、前記故障データを携帯用コンピュータで前処理をおこない、ホストコンピュータで後処理をおこなうことを特徴とする故障診断方法。

IPC (3)：

G06F 11/22 360 ,  G06F 17/40 ,  G06F 11/30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 品質情報診断解析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-132196   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平3-154846
  
• 特開平4-317141