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J-GLOBAL ID：200903068612639000

穀粒中の混合品種の有無および混合された品種の判別方法

Inventor： 大坪 研一 ,  中村 澄子 ,  宮村 毅 ,  雲 聡 ,  加藤 郁之進
Applicant, Patent owner： 独立行政法人食品総合研究所 ,  大坪 研一 ,  中村 澄子 ,  タカラバイオ株式会社
Agent (1)： 久保田 藤郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002240084
Publication number (International publication number)：2003135082
Application date： Aug. 21, 2002
Publication date： May. 13, 2003
Summary：

【要約】【課題】 「コシヒカリ」等の良質穀粒に対する他の品種の混合の有無および混合された品種を簡易迅速、かつ正確に判定する方法並びにそれに用いるキットを提供すること。【解決手段】 穀粒に他の品種の穀粒が混合しているか否かを、当該穀粒もしくはその加工品から抽出したDNAを鋳型とするマルチプレックスPCR法を用いて判別するに際し、対象品種では識別バンドを発現せず、混合品種のみに選択的に発現するネガティブバンド識別用対合プライマー群を用いることを特徴とする穀類のDNA品種判別方法、並びに対象品種では識別バンドを発現せず、混合品種のみに選択的に発現するネガティブバンド識別用対合プライマー群を含むことを特徴とする穀類のDNA品種判別用キット。

Claim (excerpt)：

穀粒に他の品種の穀粒が混合しているか否かを、当該穀粒もしくはその加工品から抽出したDNAを鋳型とするマルチプレックスPCR法を用いて判別するに際し、対象品種では識別バンドを発現せず、混合品種のみに選択的に発現するネガティブバンド識別用対合プライマー群を用いることを特徴とする穀類のDNA品種判別方法。

IPC (6)：

C12N 15/09 ZNA ,  A01H 1/04 ,  A01M 9/00 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/566

FI (6)：

A01H 1/04 ,  A01M 9/00 Z ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 33/53 M ,  G01N 33/566 ,  C12N 15/00 ZNA A

F-Term (26)：

2B030AA02 ,  2B030AB03 ,  2B030AD20 ,  2B030CA06 ,  2B030CB03 ,  2B121CB09 ,  2B121CB25 ,  2B121CB46 ,  2B121EA01 ,  2B121FA04 ,  4B024AA11 ,  4B024CA02 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QA20 ,  4B063QQ04 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR40 ,  4B063QR62 ,  4B063QS14 ,  4B063QS25 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米の品種識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-102709   Applicant：農林水産省食品総合研究所長, 大坪研一, 豊島英親, 岡留博司
• 米試料の品種判別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-226854   Applicant：農林水産省食品総合研究所長, 大坪研一, 與座宏一, 川崎信二

Cited by examiner (2)

• 米の品種識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-102709   Applicant：農林水産省食品総合研究所長, 大坪研一, 豊島英親, 岡留博司
• 米試料の品種判別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-226854   Applicant：農林水産省食品総合研究所長, 大坪研一, 與座宏一, 川崎信二

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 穀粒の一粒判定技術の開発, 20010330, p.1-42

Cited by examiner (2)

• 穀粒の一粒判定技術の開発, 20010330, p.1-42
• 穀粒の一粒判定技術の開発, 20010330, p.1-42