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J-GLOBAL ID：200903068644746290

高周波素子用測定治具

Inventor： 市原 淳
Applicant, Patent owner： ローム株式会社
Agent (1)： 朝日奈 宗太 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991189933
Publication number (International publication number)：1993034407
Application date： Jul. 30, 1991
Publication date： Feb. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】 FET、トランジスタなどマイクロ波領域で動作する高周波素子のNFやSパラメータなどの高周波特性を測定するばあい、高周波素子のリード端子が短くても、端子間容量の発生を極力防止し、精度の良い測定を簡単に行える高周波素子用測定治具を提供する。【構成】 同軸線路を構成している中心導体二本を直線状でなくある角度をなしてその端部が近接するように配置するとともに、その端部を平面状に形成してそれぞれ入力端子および出力端子とし、前記同軸線路を構成している外部導体と接続された接地端子とで高周波素子の各リード端子と接続しうるように測定治具を構成した。

Claim (excerpt)：

中心導体と外部導体とからなる同軸線路の前記中心導体二つにより形成された入力端子と出力端子および前記外部導体と接続された接地端子とで構成され、前記各端子に高周波素子の各リード端子を接続することによって前記高周波素子の特性を測定するための高周波素子用測定治具であって、前記入力端子と前記出力端子とがある角度をなして近接配置され、かつ前記高周波素子の各リード端子との接触面が平面となるように形成されてなる高周波素子用測定治具。