Pat

J-GLOBAL ID：200903068665815144

超高速光波形測定法

Inventor： 五神 真 ,  江馬一弘
Applicant, Patent owner： 新技術事業団
Agent (1)： 蛭川 昌信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991229249
Publication number (International publication number)：1993072047
Application date： Sep. 10, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 時間分解能がエレクトロニクスに制限されず、安価で、プローブパルスの掃引を必要としない新しい原理に基づく、100fsから100psの光パルス等の超高速光波形測定法。【構成】 測定時間波形を回折格子Gに入射させ、その0次以外の所定次数の回折光をレンズL1 で空間的にフーリエ変換し、その位相項をプローブ光パルスと非線形物質N中で光混合させて消去し、位相項消去後、再びレンズL2 で空間的にフーリエ変換して、測定時間波形をそれと相似の空間パターンとして読み出す。

Claim (excerpt)：

測定時間波形を回折格子に入射させ、その0次以外の所定次数の回折光を空間的にフーリエ変換し、その位相項をプローブ光パルスと非線形物質中で光混合させて消去し、位相項消去後、再び空間的にフーリエ変換して、測定時間波形をそれと相似の空間パターンとして読み出すことを特徴とする超高速光波形測定法。