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J-GLOBAL ID：200903068693932091
眼内寸法測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006148419
Publication number (International publication number)：2007313208
Application date： May. 29, 2006
Publication date： Dec. 06, 2007
Summary：
【課題】 被験者眼の眼内寸法を精度よく得る。【解決手段】 被験者眼の眼内寸法を非接触にて取得する眼内寸法測定装置において、 低コヒーレント長の光束を出射する光源を有し,該光源から出射した前記光束の一部を第1及び第2の測定光として被験者眼の第1の測定面と第2の測定面に各々に集光させる測定光照射光学系と、前記光源から出射した前記光束の一部を参照光として分離させる分離手段と該参照光の光路長を変化させるための光路長可変手段とを有し,該光路長可変手段を用いて前記参照光の光路長を変化させるとともに前記参照光と前記第1測定光の反射光及び第2測定光の反射光とを各々合成して干渉させて受光し,干渉信号を得るための干渉光学系と、前記干渉信号及び光路長可変手段の駆動結果とに基づいて被験者眼の眼内寸法を測定する測定手段と、を備える【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
被験者眼の眼内寸法を非接触にて取得する眼内寸法測定装置において、
低コヒーレント長の光束を出射する光源を有し,該光源から出射した前記光束の一部を第1及び第2の測定光として被験者眼の第1の測定面と第2の測定面に各々に集光させる測定光照射光学系と、
前記光源から出射した前記光束の一部を参照光として分離させる分離手段と該参照光の光路長を変化させるための光路長可変手段とを有し,該光路長可変手段を用いて前記参照光の光路長を変化させるとともに前記参照光と前記第1測定光の反射光及び第2測定光の反射光とを各々合成して干渉させて受光し,干渉信号を得るための干渉光学系と、
前記干渉信号及び光路長可変手段の駆動結果とに基づいて被験者眼の眼内寸法を測定する測定手段と、
を備えることを特徴とする眼内寸法測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
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