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J-GLOBAL ID：200903068715198389

レーザー光源の寿命判定方法

Inventor： 正木 功 ,  柳 茂知 ,  荒井 茂
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 山谷 晧榮
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992047115
Publication number (International publication number)：1993250715
Application date： Mar. 04, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光ディスク装置等において使用されるレーザー光源の寿命を判定するレーザー光源の寿命判定方法に関し、装置の個々にバラツキがあっても、寿命判定精度を向上することを目的とする。【構成】 電流に応じた光パワーを発生するレーザー光源100と、該レーザー光源の電流値を設定する制御部44とを有し、該レーザー光源100の照射光によって、所望の動作を行う装置において、該制御部44に、不揮発性メモリ45を設け、予め、該制御部44により、電流値を変化させて、該レーザー光源100の光パワーが所定値となるよう発光調整して、該調整値を初期値として該不揮発性メモリ45に格納しておき、装置の動作時の発光調整の際に、該不揮発性メモリ45の初期値を読み出し、該発光調整の調整値との比較により、該レーザー光源100の寿命を判定する。

Claim (excerpt)：

電流に応じた光パワーを発生するレーザー光源(100)と、該レーザー光源の電流値を設定する制御部(44)とを有し、該レーザー光源の照射光によって、所望の動作を行う装置において、該制御部(44)に、不揮発性メモリ(45)を設け、予め、該制御部(44)により、電流値を変化させて、該レーザー光源(100)の光パワーが所定値となるよう発光調整して、該調整値を初期値として該不揮発性メモリ(45)に格納しておき、装置の動作時の発行調整の際に、該不揮発性メモリ(45)の初期値を読み出し、該発光調整の調整値との比較により、該レーザー光源(100)の寿命を判定することを特徴とするレーザー光源の寿命判定方法。

IPC (2)：

G11B 7/125 ,  G01M 11/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平3-183181
  
• 特開平2-094036
  
• 特開平3-232287
  
• 特開昭61-141465
  
• 特開平2-173803