Pat
J-GLOBAL ID：200903068761022341
電子部品のピックアップミス検出方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992106271
Publication number (International publication number)：1993299891
Application date： Apr. 24, 1992
Publication date： Nov. 12, 1993
Summary：
【要約】【目的】 電子部品の厚さの変動に応じて、電子部品のピックアップミスの有無を高速度で検出できる方法を提供する。【構成】 コンピュータ60のメモリ61に登録された電子部品Cの厚さのデータに従い、移載ヘッド7の回転動作中に昇降機構82〜84を駆動して検知装置80の高さを調整して、発光部91と受光部92を電子部品Cの下面レベルL近傍で予め待機させておくようにした。【効果】 電子部品Cの厚さに応じて、発光部91と受光部92を上下動させるのに要する時間がデッドタイムとならず、高速度でピックアップミスの有無を検出できる。
Claim (excerpt)：
移載ヘッドが回転しながら、電子部品供給部の電子部品をノズルの下端部に真空吸着してピックアップし、この移載ヘッドの移動路に設けられた発光部と受光部を備えた検知装置によりこの電子部品を検知した後、この電子部品をXYテーブルに設けられた基板に搭載するようにした電子部品の実装方法において、コンピュータのメモリに登録された上記電子部品の厚さのデータに従い、上記移載ヘッドの回転動作中に昇降機構を駆動して上記検知装置の高さを調整することにより、上記発光部と受光部を上記ノズルの下端部に真空吸着されて次に到来する電子部品の下面レベル近傍で予め待機させ、上記ノズルに真空吸着された電子部品がこの発光部と受光部の間に到来して上記移載ヘッドの回転動作が停止したタイミング中に、この発光部から受光部へ向かって照射された光の電子部品の下部による遮光の有無と、電子部品の直下における遮光の有無を検出し、その検出結果にしたがって、電子部品のピックアップミスの有無を判定するようにしたことを特徴とする電子部品のピックアップミス検出方法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
