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J-GLOBAL ID：200903068781786976

ガス分析計およびガス分析機構

Inventor： 藤原 雅彦 ,  秋山 重之 ,  石田 正彦 ,  井ノ上 哲志
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993354288
Publication number (International publication number)：1995190931
Application date： Dec. 31, 1993
Publication date： Jul. 28, 1995
Summary：

【要約】【目的】 シングルセル方式で2成分以上を同時に検出できるガス分析計、および、クロスモジュレーション・シングルセル方式において、2成分以上を同時に検出するのに好適なガス分析機構を得ること。【構成】 2つの測定セル2,3、この各測定セルごとにその一端側に設けられた光源4,5、同じく各測定セル2,3ごとにその他端側に測定成分の検出に妨害となる干渉ガス成分を封入して設けられたガスフィルタセル6,7、この2つのガスフィルタセルにそれぞれ内蔵されたビームスプリッター8,9およびこの各ビームスプリッターごとに透過位置側と反射位置側にそれぞれ設けられた第1,第4検出器10,13、第2,第3検出器11,12からなるガス分析計ユニットと、ロータリバルブ1に接続されたサンプリング装置Q1 とからなる。

Claim (excerpt)：

試料ガスが導入されるセルの一端側に光源を設ける一方、セルの他端側に測定成分の検出に妨害となる干渉ガス成分を封入してなるガスフィルタセルを設け、このガスフィルタセルにビームスプリッターを内蔵して、該ビームスプリッターの透過位置側と反射位置側にそれぞれ検出器を設けたことを特徴とするガス分析計。

IPC (2)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/35