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J-GLOBAL ID:200903068793830083

分子検出の為の光学的方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 杉本 修司 ,  野田 雅士
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003123677
Publication number (International publication number):2004004064
Application date: Apr. 28, 2003
Publication date: Jan. 08, 2004
Summary:
【課題】分子構造を簡単に検出する為の安全で、低コストで、迅速かつ正確な方法と装置を提供する。【解決手段】下記の要件を具備する装置。a)試料物質を受け入れる為の基板上に形成されたテスト部位アレー、b)分子構造に結合する為のテスト部位に形成されたプローブであって、異なったテスト部位のプローブは該当の予め定められた分子構造との結合の為に異なった構造であるプローブ、及び、c)多数の検出器を持つ検出器アレーを備える。各検出器は該当のテスト部位に隣接して配置され、しかも放射は上記テスト部位を通って伝播し、且つ結合されたプローブを持つ部位ではプローブの結合されていないテスト部位とは異なった度合いで吸収され、さらに、この吸収度合いの差異は上記検出器により感知されて試料物質内の分子構造の存在を特定する為の信号を発信するために使用されている。【選択図】 図15
Claim (excerpt):
下記の工程を具備する分子構造を特定化する為の方法: a)テスト部位のアレーを形成し、各部位は特定の分子構造との結合の可能なプローブをその中に形成され、各テスト部位でのプローブが他のテスト部位のプローブとは異なり; b)テスト部位に試料物質を供給し; c)テスト信号をテスト部位に送り;および d)送られた信号から生じるテスト部位の特性を検出することにより、何れのプローブが試料物質の分子構造に結合したかを判定して、多数の分子構造を識別する。
IPC (12):
G01N33/53 ,  C12M1/00 ,  C12M1/34 ,  C12N11/00 ,  C12N15/09 ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/68 ,  G01N5/02 ,  G01N21/64 ,  G01N29/18 ,  G01N33/566 ,  G01N37/00
FI (13):
G01N33/53 M ,  C12M1/00 A ,  C12M1/34 Z ,  C12N11/00 ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/68 A ,  G01N5/02 A ,  G01N21/64 F ,  G01N29/18 ,  G01N33/566 ,  G01N37/00 102 ,  C12N15/00 A ,  C12N15/00 F
F-Term (55):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043LA03 ,  2G043NA05 ,  2G047AA12 ,  2G047BA04 ,  2G047BC02 ,  2G047BC03 ,  2G047CA02 ,  4B024AA11 ,  4B024CA04 ,  4B024CA05 ,  4B024CA06 ,  4B024CA09 ,  4B024HA08 ,  4B024HA12 ,  4B024HA14 ,  4B024HA19 ,  4B029AA07 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029BB11 ,  4B029BB20 ,  4B029CC03 ,  4B029FA12 ,  4B033NA16 ,  4B033NB24 ,  4B033NB25 ,  4B033NB26 ,  4B033NB34 ,  4B033ND05 ,  4B033ND16 ,  4B063QA01 ,  4B063QA17 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR41 ,  4B063QR42 ,  4B063QR55 ,  4B063QR77 ,  4B063QR82 ,  4B063QS12 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX02 ,  4B063QX04 ,  4B063QX07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平2-116735
  • 特表平4-505763
  • 特開平1-221668
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