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J-GLOBAL ID：200903068893724868

陽電子を用いた材料評価装置および評価方法

Inventor： 白井 泰治 ,  荒木 秀樹 ,  吉田 政司
Applicant, Patent owner： 科学技術振興事業団 ,  白井 泰治 ,  住友金属テクノロジー株式会社
Agent (1)： 穂上 照忠 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999300700
Publication number (International publication number)：2001116706
Application date： Oct. 22, 1999
Publication date： Apr. 27, 2001
Summary：

【要約】【課題】陽電子を材料に入射してその寿命および発生γ線を計測する装置において、線源と被測定材料とを隔離して設置しても、より多くの陽電子をエネルギー損失少なく入射でき、それによって被測定試料の加熱や冷却および種々の計測が容易にできる装置、およびその計測方法の提供。【解決手段】陽電子線源、電磁レンズ、陽電子検出器、γ線測定器からなり、陽電子線源と電磁レンズとの距離を任意に変えて固定できる機構を有し、かつ少なくとも陽電子線源から被測定材料までの陽電子飛翔経路は、真空に保持できる材料評価装置。陽電子線源の中心位置が、電磁レンズの磁場の外にあり、電磁レンズ磁場の上端から電磁レンズの有効口径の1.5倍の距離までの範囲内である上記の材料評価装置。およびこれらの装置を用いた、材料に入射された陽電子の寿命の測定による材料評価の方法。

Claim (excerpt)：

陽電子線源、電磁レンズ、陽電子検出器、およびγ線測定器を有する陽電子を被測定材料に入射し、入射後陽電子の寿命および放出γ線を測定する装置であって、電磁レンズを間において、陽電子線源、電磁レンズおよび被測定材料がその順に同一軸上に配置されていること、陽電子線源と電磁レンズとの距離を前記軸上にて任意に変えて固定できる機構を有すること、および少なくとも陽電子線源から被測定材料までの陽電子飛翔経路は真空に保持できること、を特徴とする材料評価装置。

F-Term (22)：

2G001AA03 ,  2G001AA09 ,  2G001BA28 ,  2G001CA02 ,  2G001CA03 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA07 ,  2G001DA10 ,  2G001GA05 ,  2G001GA10 ,  2G001GA13 ,  2G001GA16 ,  2G001GA17 ,  2G001JA01 ,  2G001KA03 ,  2G001PA07 ,  2G001PA30 ,  2G001RA03 ,  2G001SA29 ,  2G001SA30

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開昭61-114454
  

Cited by examiner (1)

• 特開昭61-114454