Pat

J-GLOBAL ID：200903068912550906

探傷データ評価装置及び方法

Inventor： 松本 善博 ,  小松 英伸 ,  青木 一彦
Applicant, Patent owner： 原子燃料工業株式会社
Agent (1)： 佐藤 正年 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992103914
Publication number (International publication number)：1993281199
Application date： Mar. 31, 1992
Publication date： Oct. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】 探傷データを自動的に評価でき、データの分析・評価効率と精度を向上させることのできる探傷データ評価装置及び方法を提供する。【構成】 探傷器1からの測定信号は、演算手段2でパラメータ化されて第1ニューラルネットワーク3に入力され、欠陥、打痕傷、付着物の判定がなされる。欠陥と判定された信号については、第2ニューラルネットワーク4で欠陥の定量評価(周方向/軸方向、内面/外面の分類、大きさ、深さなど)がなされる。S/N比が小さく判定が困難な信号については、ノイズ分離の学習を施した第3ニューラルネットワーク5で定量評価される。第3ニューラルネットワーク5でも判定困難な場合はグレー信号が出力される。

Claim (excerpt)：

探傷手段からの測定信号を分析して被検査物の欠陥及び/又は付着物の発生状態を評価する評価手段を有する探傷データ評価装置であって、前記評価手段として、所定の応答関数f(X)をもつ複数の処理ユニットが所定の重み係数Wi で結合され、かつ前記重み係数は与えられた学習データによって最適化がなされるニューラルネットワークシステムを備えたことを特徴とする探傷データ評価装置。

IPC (3)：

G01N 27/90 ,  G06F 9/44 330 ,  G21C 17/003

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-116869
  
• 特公平4-010986
  
• 特開平1-243169