探傷データ評価装置及び方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：佐藤正年 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992103914
Publication number (International publication number)：1993281199
Application date： Mar. 31, 1992
Publication date： Oct. 29, 1993
Summary：

【要約】【目的】探傷データを自動的に評価でき、データの分析・評価効率と精度を向上させることのできる探傷データ評価装置及び方法を提供する。【構成】探傷器1からの測定信号は、演算手段2でパラメータ化されて第1ニューラルネットワーク3に入力され、欠陥、打痕傷、付着物の判定がなされる。欠陥と判定された信号については、第2ニューラルネットワーク4で欠陥の定量評価(周方向/軸方向、内面/外面の分類、大きさ、深さなど)がなされる。S/N比が小さく判定が困難な信号については、ノイズ分離の学習を施した第3ニューラルネットワーク5で定量評価される。第3ニューラルネットワーク5でも判定困難な場合はグレー信号が出力される。

Claim (excerpt)：

探傷手段からの測定信号を分析して被検査物の欠陥及び/又は付着物の発生状態を評価する評価手段を有する探傷データ評価装置であって、前記評価手段として、所定の応答関数f(X)をもつ複数の処理ユニットが所定の重み係数Wi で結合され、かつ前記重み係数は与えられた学習データによって最適化がなされるニューラルネットワークシステムを備えたことを特徴とする探傷データ評価装置。

IPC (3)：

G01N 27/90 , G06F 9/44 330 , G21C 17/003

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

特開平1-116869
特公平4-010986
特開平1-243169

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