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J-GLOBAL ID：200903068942810457

画像診断支援装置

Inventor：
笠井 聡

About 笠井 聡


Applicant, Patent owner：
コニカ株式会社

About コニカ株式会社


Agent (1)： 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000307104
Publication number (International publication number)：2002112986
Application date： Oct. 06, 2000
Publication date： Apr. 16, 2002
Summary：
【要約】【課題】 本発明は画像診断支援装置に関し、検出する異常陰影の種類に応じて最適な異常陰影検出アルゴリズムを選択できるようにした画像診断支援装置を提供することを目的としている。【解決手段】 被写体を透過した放射線画像上の異常陰影候補を検出する複数の異常陰影検出アルゴリズムを具備する異常陰影検出手段6と、検出目的に応じて前記異常陰影検出アルゴリズムを1つ若しくは複数個選択するアルゴリズム選択手段とを有して構成する。
Claim (excerpt)：
被写体を透過した放射線画像上の異常陰影候補を検出する複数の異常陰影検出アルゴリズムを具備する異常陰影検出手段と、検出目的に応じて前記異常陰影検出アルゴリズムを1つ若しくは複数個選択するアルゴリズム選択手段とを有することを特徴とする画像診断支援装置。
IPC (3)：
A61B 6/00 ,  G06T 1/00 290 ,  H04N 7/18
FI (3)：
G06T 1/00 290 A ,  H04N 7/18 L ,  A61B 6/00 350 D
F-Term (25)：
4C093AA26 ,  4C093CA18 ,  4C093DA06 ,  4C093FF16 ,  4C093FF17 ,  4C093FF19 ,  4C093FF50 ,  4C093FG04 ,  4C093FG20 ,  5B057AA08 ,  5B057CH11 ,  5B057CH18 ,  5B057DA03 ,  5B057DC22 ,  5C054AA01 ,  5C054AA06 ,  5C054CA02 ,  5C054CC01 ,  5C054EA01 ,  5C054EA05 ,  5C054EA07 ,  5C054EG01 ,  5C054GA01 ,  5C054GB01 ,  5C054HA12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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