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J-GLOBAL ID：200903068963971450

細胞診断方法、ならびにそれに用いるデバイスおよび装置

Inventor： 岡 弘章 ,  小川 竜太
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (3)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  大塩 竹志
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2002007984
Publication number (International publication number)：WO2003016555
Application date： Aug. 05, 2002
Publication date： Feb. 27, 2003
Summary：

細胞を診断する方法であって、細胞の物理化学的特性を測定する反応系を提供する工程、細胞またはその細胞膜画分を試料として上記反応系に配置する工程、上記試料に刺激を与える工程、上記試料の物理化学的特性の指標値を得る工程、および上記指標値に基づいて上記細胞の状態を診断する工程を包含する。上記反応系は、上記試料を配置するための基板、基準電極および測定電極を備えるデバイスを備え、上記基準電極の配置環境または特性と、上記測定電極の配置環境または特性とは異なり、上記基板は、上記試料を配置するための貫通孔を備え、上記基準電極および側定電極は、該試料をそれらの間に挟むように上記貫通孔の近傍に配置される。

Claim (excerpt)：

細胞の状態および特徴を診断する方法であって、 細胞の物理化学的特性を測定する反応系を提供する工程、 細胞の細胞膜画分を含む試料を該反応系に配置する工程、 該試料に刺激を与える工程、 該試料の物理化学的特性の指標値を得る工程、および 該指標値に基づいて該細胞の状態を診断する工程、 を包含する、方法。

IPC (8)：

C12Q1/02 ,  C12M1/00 ,  C12M1/34 ,  G01N27/02 ,  G01N27/22 ,  G01N27/30 ,  G01N27/416 ,  G01N37/00

FI (12)：

C12Q1/02 ,  C12M1/00 A ,  C12M1/34 A ,  G01N27/02 D ,  G01N27/22 B ,  G01N27/30 F ,  G01N37/00 101 ,  G01N27/46 386Z ,  G01N27/46 336M ,  G01N27/46 336B ,  G01N27/46 336C ,  G01N27/46 341M