Pat
J-GLOBAL ID:200903068979783727
測距装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中村 稔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992040730
Publication number (International publication number):1993209745
Application date: Jan. 31, 1992
Publication date: Aug. 20, 1993
Summary:
【要約】【目的】 測距不能になることや、測距精度が低下してしまうといったことを防止する。【構成】 少なくとも3つの受光手段1,2,3それぞれにより得られる距離デ-タを記憶する記憶手段と、該記憶手段にて記憶された距離デ-タが、それぞれの受光手段の測距可能範囲内のデ-タであるか否かを判定する判定手段20と、該判定手段にて測距可能範囲内の距離デ-タであると判定された場合には、この距離デ-タを最終的な距離デ-タとして出力し、測距可能範囲外の距離デ-タであると判定された場合には、前記記憶手段にて記憶された各距離デ-タの内の所定の受光手段にて得られた距離デ-タを選択し、これを最終的な距離デ-タとして出力する距離デ-タ出力手段20とを設けている。
Claim (excerpt):
測距対象に向けて光を投射する複数の投光手段と、該投光手段にて投射され前記測距対象にて反射される信号光を受光する、それぞれ異なる測距可能範囲を有する少なくとも3つの受光手段とを備えた、複数の測距点を有する測距装置において、前記少なくとも3つの受光手段それぞれにより得られる距離デ-タを記憶する記憶手段と、該記憶手段にて記憶された距離デ-タが、それぞれの受光手段の測距可能範囲内のデ-タであるか否かを判定する判定手段と、該判定手段にて測距可能範囲内の距離デ-タであると判定された場合には、この距離デ-タを最終的な距離デ-タとして出力し、測距可能範囲外の距離デ-タであると判定された場合には、前記記憶手段にて記憶された各距離デ-タの内の所定の受光手段にて得られた距離デ-タを選択し、これを最終的な距離デ-タとして出力する距離デ-タ出力手段とを設けたことを特徴とする測距装置。
IPC (2):
Patent cited by the Patent: