Pat
J-GLOBAL ID：200903068997575902
X線診断システムおよび撮影位置決め方法、並びにX線CTスキャナ
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
波多野 久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997029223
Publication number (International publication number)：1997276264
Application date： Feb. 13, 1997
Publication date： Oct. 28, 1997
Summary：
【要約】【課題】X線CTスキャナのスライス位置の位置決めを、X線被爆量を著しく低減させ、正確かつ短時間に、および操作性良く行う。【解決手段】被検体PをX線で透視することに伴う透過X線からデジタル量の画素値から成るCR像を得るX線透視装置2と、被検体Pの断層像を得るX線CTスキャナ3と、CR像を使って被検体のスライス位置を求める手段(6,7,32,30)と、スライス位置をX線透視装置2とX線CTスキャナ3との間で共有させる手段(30,4B)とを備える。具体的には、CR像上の所望位置を手動で指示する入力器7と、この所望位置からスライス位置を設定する設定手段(32,30)とを備える。設定手段はCR像全体の被検体内での絶対的位置と当該CR像の画素が元来有する位置情報とに基づきスライス位置を設定する。
Claim (excerpt)：
被検体をX線で透視することに伴う透過X線からデジタル量の画素値から成るCR像を得るX線透視装置と、前記被検体の断層像を得るX線CTスキャナと、前記X線透視装置および前記X線CTスキャナの動作を制御する共通の制御装置とを備え、前記制御装置は、前記CR像を使って前記被検体の断層撮影の位置情報を取得する取得手段と、前記位置情報を前記X線透視装置と前記X線CTスキャナとの間で共有させる共有化手段とを備えたことを特徴とするX線診断システム。
IPC (3)：
A61B 6/03 377
, A61B 6/03 323
, A61B 6/00 370
A61B 6/03 377
, A61B 6/03 323 A
, A61B 6/00 370
Cited by examiner (5)
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