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J-GLOBAL ID：200903069010886878

MRAMトグル・ビット特徴付けのための3連パルス方法

Inventor： リッツォ,ニコラス・ディー ,  デヘーレラ,マーク・エフ ,  ジェーンスカイ,ジェイソン・エイ
Applicant, Patent owner： フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド
Agent (5)： 社本 一夫 ,  小野 新次郎 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008508840
Publication number (International publication number)：2008539534
Application date： Mar. 02, 2006
Publication date： Nov. 13, 2008
Summary：

アレイの磁気ビット(3,104,514)を試験する方法が提供される。第1(702)、第2(704)及び第3(706)のパルスの列が、所望のビットに与えられ、第1及び第2のパルスが、実質的に類似の低いフィールドで始まり、第1、第2及び第3のパルスの連続した列に関して類似の量で増大し、第3のパルスが磁気ビットをトグルするのに十分な電流振幅を有する。代表的な計数が、磁気ビットを切り替えることに応答して記録される。上記のステップが、繰り返され、そして磁気ビットに書き込み及びそれをトグルするために必要とされる電流振幅を決定することが行われる。

Claim (excerpt)：

磁気ビットを試験する方法であって、 第1、第2及び第3のフィールド・パルスを前記磁気ビットに与えるステップであって、前記第1及び第2のフィールド・パルスは第1の大きさの実質的に類似のフィールドを有し、前記第3のフィールド・パルスは前記第1の大きさとは異なる第2の大きさの高いフィールドである、前記与えるステップと、 前記磁気ビットが前記第1、第2及び第3のフィールド・パルスのうちの1又はそれより多いフィールド・パルスに応答して切り替わったかどうかを決定するステップと を備える方法。

IPC (1)：

G11C 11/15

FI (2)：

G11C11/15 195 ,  G11C11/15 140