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J-GLOBAL ID：200903069031955349

デバッグシステム

Inventor： 安治 裕一
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 大岩 増雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997052095
Publication number (International publication number)：1998254728
Application date： Mar. 06, 1997
Publication date： Sep. 25, 1998
Summary：

【要約】【課題】 オブジェクト指向プログラムのオブジェクトの状態変化を分かりやすく表示する。【解決手段】 デバッグ情報付加部102は、プログラムにオブジェクトの生成、消滅、メッセージ送受信に関する情報をシーケンス番号等の認識コードを用いてオブジェクトの状態変更事象データとして付加し、ソースコード114を生成する。デバッグ情報入力部107はソースコード114のプログラムを実行した際に、オブジェクトの状態変更事象データとして出力し、デバッグ情報表示部108は、認識コードファイル112から認識コードに対応するオブジェクト名等を参照しCRT116上に表示する。このようにしてデバッグ時、オブジェクトの状態および状態変化が容易に把握でき、効果的なデバッグが行える。

Claim (excerpt)：

オブジェクト指向プログラムをデバッグするデバッグシステムにおいて、上記プログラムのオブジェクトの生成・消滅・メッセージ送受信によるオブジェクトの状態を抽出し、このオブジェクトの状態を通知するための通知情報を上記プログラムに組み込んでデバッグ用プログラムを生成するデバッグ用プログラム生成手段と、上記デバッグ用プログラの実行により上記通知情報に応じてオブジェクトの状態を表示するデバッグ情報表示手段を備えたことを特徴とするデバッグシステム。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• オブジェクト指向システムの開発支援装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-142660   Applicant：株式会社リコー
• オブジェクト指向プログラムの実行を示す動画表示
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-242710   Applicant：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション