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J-GLOBAL ID：200903069087585854
クロックマ-ジンテスト装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
磯村 雅俊
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992064685
Publication number (International publication number)：1993265587
Application date： Mar. 23, 1992
Publication date： Oct. 15, 1993
Summary：
【要約】【目的】 小型化、かつ少ない部品点数、少ない工数でクロックマ-ジンテストを実施でき、またノ-マルクロックで稼動する製品時の状態に近い状態で、かつ利用者の使用場所でもテストを実施できるようにする。【構成】 装置外部に設置されたポ-タブルサイズのマ-ジンクロック発生器を、ワンタッチで装置に接続し、予めとびとびの値に設定されたマ-ジンクロックの周波数やデュ-ティや電位や位相の値をサ-ビスプロセッサからの制御で順次切り換えることにより、各波形における装置の動作特性を自動的に試験する。
Claim (excerpt)：
ノ-マルクロックとマ-ジンクロックとを選択して処理部に供給するクロックユニットと、上記各クロックに同期して処理を実行する処理部と、該クロックユニットおよび処理部を制御するサ-ビスプロセッサとを備えたクロックマ-ジンテスト装置において、該サ-ビスプロセッサの制御により、予めとびとびの値が設定されているマ-ジンクロックの周波数、デュ-ティ、電位、ないし位相の値を順次切り換えるマ-ジンクロック発生手段を、装置の外部に設置して、クロックマ-ジンテストの時だけ該装置に接続し、該サ-ビスプロセッサからマ-ジンクロックを切り換えるコマンドと、上記処理部の処理の実行を開始するコマンドと、該処理の実行を終了させるコマンドを繰り返し発行させることにより、マ-ジンクロックの各周波数、各デュ-ティ、各電位ないし各位相における装置の動作特性を試験することを特徴とするクロックマ-ジンテスト装置。
IPC (2)：
G06F 1/04 302
, G06F 1/04 301
