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J-GLOBAL ID：200903069090333726

微粒子測定装置

Inventor： 小口 一夫 ,  加賀谷 淳
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 大日方 富雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993268910
Publication number (International publication number)：1995120376
Application date： Oct. 27, 1993
Publication date： May. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 吸収する光の波長が種々異なる、不透明溶液状の測定試料に含まれている微粒子の粒径、粒子数を、常に精度良く測定する。【構成】 異物微粒子測定装置10の試料流路5には、波長が固定された測定光を発生する複数の測定ユニット8,8...が設けられている。これらのユニットから照射される測定光の波長は互いに異なるように設定される。又、上記試料流路5には、当該測定試料1が吸収する光の波長を検出する吸光光度計7が設置されている。光度計7による検出波長、及び測定ユニット8,8...による測定結果は、システム制御部6に送られる。制御部6は、測定ユニットからの、複数の測定光の波長と、上記検出波長とを比較し、当該試料1に適した測定光を発生する測定ユニット8を選択し、斯く選択したユニットによる測定結果のみを用いて、試料1中の異物の粒径、粒子数等を算出する。

Claim (excerpt)：

試料流路を通過する試料に測定光を照射し、照射時に発生する散乱光を検出して、この検出結果に基づいて当該試料中の微粒子の粒径、若くは、粒子数を測定する微粒子測定装置において、試料流路に、波長が固定された測定光を発生させる照射手段が複数個設けられると共に、各々の照射手段から発生する測定光の波長が互いに異なるように設定されていることを特徴とする微粒子測定装置。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02