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J-GLOBAL ID:200903069110609774

評価対象の計測装置、状態検出装置、計測方法、状態検出方法および記録媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 國分 孝悦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000344334
Publication number (International publication number):2002148073
Application date: Nov. 10, 2000
Publication date: May. 22, 2002
Summary:
【要約】【課題】 評価対象と計測点とが離れていても、計測点において計測した信号から評価対象の位置における信号を正確に求めることができるようにする。【解決手段】 物理量を直接計測できない評価対象10から出力され、抵抗20を介して計測部30により計測された状態信号に基づいて、演算部40内の逆問題解析部41で評価対象10の評価面における状態信号を求めるための逆問題解析を行うようにして、評価対象10と計測部30とが離れていても、その間にある抵抗20の影響を逆問題解析により取り除いて、評価対象10の評価面における状態信号を正確に算出することができるようにする。
Claim (excerpt):
評価対象から所定の距離だけ離れた計測点で計測した信号に基づいて評価対象の位置における信号を求める評価対象の計測装置であって、上記評価対象から出力され、評価対象と計測点との間の抵抗により減衰された信号を計測点で計測する計測手段と、上記計測手段により計測した信号を用いて、逆問題解析により評価対象の位置における信号を求める演算手段とを備えることを特徴とする評価対象の計測装置。
IPC (4):
G01D 1/00 ,  B22D 11/16 104 ,  B22D 11/16 ,  G01K 7/02
FI (4):
G01D 1/00 Z ,  B22D 11/16 104 V ,  B22D 11/16 104 N ,  G01K 7/02 Z
F-Term (4):
4E004MA05 ,  4E004MC12 ,  4E004MC13 ,  4E004PA07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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