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J-GLOBAL ID：200903069145145509

浮遊物質濃度粒度測定装置

Inventor： 森田 佐一郎 ,  角 哲也 ,  小宮 秀昭 ,  越智 隆志
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001172160
Publication number (International publication number)：2002365199
Application date： Jun. 07, 2001
Publication date： Dec. 18, 2002
Summary：

【要約】【課題】 浮遊物質の濃度が測定出来ると共に、測定流体に含まれる所定粒度の浮遊物質の量が測定出来る浮遊物質濃度粒度測定装置を提供する。【解決手段】 多段にカスケ-ド接続されて設けられ測定流体が蓄えられる測定槽と、この測定槽に蓄えられる測定流体流量を測定する流量計と、前記測定槽に設けられ前記測定流体の浮遊物質混入濃度を測定する濁度計と、前記測定槽間に設けられ所定粒度の浮遊物質を分離する分離器とを具備したことを特徴とする浮遊物質濃度粒度測定装置である。

Claim (excerpt)：

多段にカスケ-ド接続されて設けられ測定流体が蓄えられる測定槽と、この測定槽に蓄えられる測定流体流量を測定する流量計と、前記測定槽に設けられ前記測定流体の浮遊物質混入濃度を測定する濁度計と、前記測定槽間に設けられ所定粒度の浮遊物質を分離する分離器とを具備したことを特徴とする浮遊物質濃度粒度測定装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/06

FI (2)：

G01N 15/02 F ,  G01N 15/06 E