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J-GLOBAL ID:200903069161300735

空間内異常検出装置及び空間内異常検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 河野 登夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000089983
Publication number (International publication number):2001283225
Application date: Mar. 28, 2000
Publication date: Oct. 12, 2001
Summary:
【要約】【課題】 水面の揺らぎ等の外乱を除去してより検出精度の高い空間内異常検出方法及び空間内異常検出装置を提供することにある。【解決手段】 撮像領域を約60程度の区画に分割し、得られる画像データから区画毎に特性値(画像データの積算値又は平均値)を算出する。そして、この極めて少ない区画群情報から、区画毎の経時的変化を演算し、その区画が動作区画か静止区画かを判断する。一方、撮像領域全域または一部領域の画像データに関する基準値(例えば、撮像領域全体の輝度信号または色差信号の平均値)を周期的又は非周期的に算出する。そしてこの基準値を基にしきい値を設定し(例えば撮像領域全域の輝度信号平均値の5%をしきい値と設定する)、その区画が静止状態か動作状態かを判断する。そして、動作区画と判断した区画数が所定値以下である状態が一定時間経過した場合は異常状態と判断するようにした。
Claim (excerpt):
空間内を撮像し、撮像により得られる画像データを処理して空間内の異常を検出する空間内異常検出方法において、空間内を撮像する撮像ステップと、撮像した映像から画素毎の画像データを抽出するステップと、撮像領域を複数に分割した区画毎に前記画像データに関連する特性値を演算するステップと、演算した特性値の経時的変化量を検出するステップと、撮像領域の一部又は全部の領域の画像データに関連する基準値を周期的に又は非周期的に算出するステップと、算出した基準値に基づいてしきい値を算出するしきい値算出ステップと、前記経時的変化量が算出したしきい値以上である場合はその区画を動作区画と判断する状態判断ステップと、動作区画と判断した区画が所定区画数以下である状態が所定時間経過した場合は異常状態と判断するステップとを備えることを特徴とする空間内異常検出方法。
IPC (7):
G06T 7/20 ,  G06T 1/00 280 ,  G08B 21/00 ,  G08B 21/02 ,  G08B 21/04 ,  G08B 25/00 510 ,  G08B 25/04
FI (7):
G06T 7/20 A ,  G06T 1/00 280 ,  G08B 21/00 A ,  G08B 21/02 ,  G08B 21/04 ,  G08B 25/00 510 M ,  G08B 25/04 K
F-Term (54):
5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CC02 ,  5B057CH09 ,  5B057CH18 ,  5B057DA08 ,  5B057DA15 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC01 ,  5B057DC32 ,  5C086AA22 ,  5C086BA04 ,  5C086CA28 ,  5C086CB36 ,  5C086DA01 ,  5C086DA08 ,  5C086DA33 ,  5C086EA13 ,  5C086EA40 ,  5C086EA45 ,  5C086FA02 ,  5C087AA02 ,  5C087AA03 ,  5C087AA32 ,  5C087AA42 ,  5C087BB03 ,  5C087BB74 ,  5C087DD03 ,  5C087DD49 ,  5C087EE08 ,  5C087EE18 ,  5C087GG02 ,  5C087GG19 ,  5C087GG31 ,  5C087GG35 ,  5C087GG83 ,  5L096AA13 ,  5L096BA02 ,  5L096CA04 ,  5L096DA03 ,  5L096FA01 ,  5L096FA32 ,  5L096GA09 ,  5L096GA19 ,  5L096GA26 ,  5L096HA02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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