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J-GLOBAL ID:200903069233922388

屈折率測定方法および屈折率測定装置、光学部材の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006302038
Publication number (International publication number):2008116409
Application date: Nov. 07, 2006
Publication date: May. 22, 2008
Summary:
【課題】 光学部材などの透明材料の局所的な屈折率を計測することができる測定方法およびその測定装置、さらには、この測定方法を検査工程に導入した光学部材の製造方法を得ること。【解決手段】 透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の屈折率を求める。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の屈折率を求めることを特徴とする屈折率測定方法。
IPC (4):
G01N 21/65 ,  G01M 11/02 ,  G01N 21/41 ,  G02B 3/00
FI (4):
G01N21/65 ,  G01M11/02 H ,  G01N21/41 Z ,  G02B3/00 Z
F-Term (29):
2G043AA06 ,  2G043CA05 ,  2G043EA03 ,  2G043EA04 ,  2G043FA01 ,  2G043GA06 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G059AA02 ,  2G059BB15 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059GG09 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM05
Patent cited by the Patent:
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