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J-GLOBAL ID：200903069437761650

分析対象物の脱着およびイオン化のための方法および装置

Inventor： ティー. ウィリァム ハッチンズ ,  タイ-トゥング イップ
Applicant, Patent owner： ベイラー カレッジ オブ メディシン
Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999237646
Publication number (International publication number)：2000131285
Application date： May. 27, 1994
Publication date： May. 12, 2000
Summary：

【要約】【課題】 分析対象物検出についてプローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有する、質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブを提供すること。【解決手段】 質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。

Claim (excerpt)：

質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/40

FI (4)：

G01N 27/62 F ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/40

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特表平4-501189
  
• 特開昭62-284256
  
• 特開平3-089160