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J-GLOBAL ID：200903069550979743

三次元座標自動測定方法、これを用いた人体座標測定方法、三次元座標自動測定装置及び人体座標自動測定装置

Inventor： 松崎 吉則 ,  阿部 進 ,  中山 副武 ,  内田 勇治 ,  福田 和生 ,  安達 省泰
Applicant, Patent owner： 株式会社サンリット産業 ,  株式会社オージス総研
Agent (1)： 盛田 昌宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001015476
Publication number (International publication number)：2002213923
Application date： Jan. 24, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】 物体の三次元座標を簡単な装置で容易に測定できる、三次元座標自動測定方法及びこれを用いた三次元座標自動測定装置を提供する。【解決手段】 特徴点に設けた測定補助手段に照明光を照射するとともに、異なる視点に設定した一対の撮像手段によって物体とともに上記測定補助手段を撮像して(S104)、第1の画像と第2の画像を得、上記第1の画像上の各特徴点に対応するエピ極線を第2の画像上に求め(S107)、上記第2の画像上の各特徴点を上記第1の画像上の一の特徴点に対応するエピ極線に近接するものから順位付けし(S108)、上記第2の画像上の各特徴点を、順位付けした順に上記第1の画像上の一の特徴点に対応するものと仮定して座標演算を行い(S109)、上記座標演算行程で得られた座標値が適正な値であるかどうかを検証して(S110)、第1の画像上の上記特徴点に対応する第2の画像上の特徴点を決定する。

Claim (excerpt)：

物体の2以上の特徴点に光反射部材を備える測定補助手段を取り付ける特徴点設定行程と、上記測定補助手段に照明光を照射するとともに、異なる視点に設定した一対の撮像手段によって物体とともに上記測定補助手段を撮像して、第1の画像と第2の画像を得る撮像行程と、上記第1の画像上の各特徴点に対応するエピ極線を第2の画像上に求めるエピ極線形成行程と、上記第2の画像上の各特徴点を、上記第1の画像上の一の特徴点に対応するエピ極線に近接するものから順位付けする特徴点順位付け行程と、上記第2の画像上の各特徴点を、順位付けした順に上記第1の画像上の一の特徴点に対応するものと仮定して座標演算を行う座標演算行程と、上記座標演算行程で得られた座標値が適正な値であるかどうかを検証して、第1の画像上の上記特徴点に対応する第2の画像上の特徴点を決定する座標検証行程とを含み、上記特徴点順位付け行程から上記座標検証行程を、上記第1の画像上の各特徴点について順に行って物体の各特徴点の座標を求める、三次元座標自動測定方法。

IPC (4)：

G01B 11/03 ,  G06T 1/00 340 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60 150

FI (4)：

G01B 11/03 H ,  G06T 1/00 340 B ,  G06T 7/00 C ,  G06T 7/60 150 B

F-Term (33)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB28 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065DD07 ,  2F065FF05 ,  2F065FF63 ,  2F065GG07 ,  2F065GG14 ,  2F065GG17 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP01 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC03 ,  5L096AA09 ,  5L096CA05 ,  5L096FA09 ,  5L096FA64 ,  5L096FA69 ,  5L096HA01