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J-GLOBAL ID：200903069627330494

細長ダクトを用いたラム圧縮型希薄流エアデータ計測手法とそのシステム

Inventor： 藤田 和央
Applicant, Patent owner： 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構
Agent (3)： 大城 重信 ,  山田 益男 ,  佐藤 文男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007284953
Publication number (International publication number)：2009109463
Application date： Nov. 01, 2007
Publication date： May. 21, 2009
Summary：

【課題】希薄流や分子ビーム、微視的スケール流れなどの希薄気体効果の現われる高クヌーセン数流れ場の計測において、淀み圧と壁面温度を計測するだけで、速度の向き,速度,気流密度の決定を可能とする簡易な技術を提供する。【解決手段】先端部が開口した断面が矩形の導管の奥に淀み室が形成され、該淀み室には圧力センサーが配置されたものであって、前記導管は希薄流など高クヌーセン数流れのラム圧縮特性を反映するように入口径dと長さ寸法Lの比である縦横比d/Lが設計された圧力計測システムを用い、高クヌーセン数流れのラム圧縮特性に従って、ダクトの縦横比,壁面温度,主流速度,主流圧力,および迎角θに対する淀み室圧力の相関をあらかじめ定量化してデータベースとして蓄積しておくことにより、計測した淀み圧力値と、前記導管壁面の温度計測値から、高クヌーセン数流れの向き、速度の大きさ、気流密度を精度よく割り出す。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

先端部が開口した断面が矩形の導管の奥に淀み室が形成され、該淀み室には圧力センサーが配置されたものであって、前記導管は希薄流など高クヌーセン数流れのラム圧縮特性を反映するように入口径寸法dと長さ寸法Lの比である縦横比d/Lが設計された圧力計測システムを用い、高クヌーセン数流れのラム圧縮特性に従って、ダクトの縦横比,壁面温度,主流速度,主流圧力,および迎角θに対する淀み室圧力の相関をあらかじめ定量化してデータベースとして蓄積しておくことにより、計測した淀み圧力値と、前記導管壁面の温度計測値から、高クヌーセン数流れの速度の向き、速度の大きさ、気流密度を精度よく割り出すことを特徴とする計測手法。

IPC (2)：

G01P 5/00 ,  G01P 5/16

FI (3)：

G01P5/00 F ,  G01P5/16 Z ,  G01P5/00 J