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J-GLOBAL ID：200903069796322050

変位測定装置

Inventor： 下村 俊隆 ,  夜久 亨
Applicant, Patent owner： 株式会社ミツトヨ
Agent (1)： 伊丹 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992193231
Publication number (International publication number)：1994011304
Application date： Jun. 26, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：

【要約】平均消費電流を低減したアブソリュート型の変位測定装置を提供することを目的とする。【構成】ABSセンサ1と、その出力信号を処理して固定要素に対する可動要素の絶対変位量を測定するための復調回路3〜5,位相検出回路6〜8,合成回路10および演算回路12とを有し、これらの信号処理回路部を制御して測定動作を間欠的に行う制御回路9を有するアブソリュート型変位測定装置において、ABS変位センサ1の可動要素の移動または停止を検出する移動/停止状態検出回路16が設けられ、制御回路9はこの移動/停止状態検出回路16の出力に応じて間欠的測定動作の測定間隔を可変制御するようにした。

Claim (excerpt)：

固定要素に対する可動要素の相対位置関係に応じた出力信号を出す変位センサと、この変位センサの出力信号を処理して前記固定要素に対する前記可動要素の絶対変位量を測定する信号処理手段と、前記変位センサの固定要素に対する可動要素の移動または停止を検出する移動/停止状態検出手段と、前記信号処理手段を制御して測定動作を間欠的に行うと共に、前記移動/停止状態検出手段の出力に応じて間欠的測定動作の間隔を可変制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする変位測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-239019
  
• 特公昭64-001838