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J-GLOBAL ID:200903069928822244
超音波診断装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井桁 貞一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992003468
Publication number (International publication number):1993184565
Application date: Jan. 13, 1992
Publication date: Jul. 27, 1993
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、断層像, 又は、Mモード像のキャリパー計測ができる超音波診断装置に関し、計測結果の有効桁数を最適化して表示する。【構成】 断層像, 又は、Mモード像のキャリパー計測ができる超音波診断装置において、キャリパー計測時に、表示モードによって定まる各モードの画像の表示画素数?@,診断深度?A,及びズーム倍率?Bの各情報から、一画素当たりの距離?Cを算出し、該算出された距離?Cに対応して、所定の表示最小桁?Dを決定して、該計測結果を表示する。
Claim (excerpt):
断層像, 又は、Mモード像のキャリパー計測ができる超音波診断装置において、キャリパー計測時に、表示モードによって定まる各モードの画像の表示画素数(?@),診断深度 (?A),及びズーム倍率 (?B) の各情報から、一画素当たりの距離(?C) を算出し、該算出された距離 (?C) に対応して、所定の表示最小桁(?D)を決定して、該計測結果を表示することを特徴とする超音波診断装置。
IPC (3):
A61B 8/00
, G01N 29/22 502
, G06F 15/62 390
Patent cited by the Patent:
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