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J-GLOBAL ID：200903069960934208
蛍光X線分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996297178
Publication number (International publication number)：1997127028
Application date： May. 03, 1991
Publication date： May. 16, 1997
Summary：
【要約】【課題】 試料セルの組立が不完全であったり、不測の事故などで試料セルのX線透過性シートが破損して、試料セル内の試料が漏れ出すことがあっても、測定部位の下方に位置するX線検出器やX線管などに悪影響が及ぼされないようにした蛍光X線分析装置を提供すること。【解決手段】 測定部位において試料セルを保持する試料セル台として、台外枠と、この台外枠の内側に装着される台内枠と、これら台外枠と台内枠との間に挟み込まれかつ台内枠の一端側を閉塞するX線透過性シートとからなるものを用い、これを測定部位に着脱自在に設けるようにした。
Claim (excerpt)：
セル外枠と、このセル外枠の内側に装着されるセル内枠と、これらセル外枠とセル内枠との間に挟み込まれかつセル内枠の一端側を閉塞するX線透過性シートとからなり、セル内枠内に試料を収容するように構成された試料セルを測定部位にセットし、この測定部位の下方から前記試料セルに向かって一次X線を照射するようにした蛍光X線分析装置において、前記測定部位に、台外枠と、この台外枠の内側に装着される台内枠と、これら台外枠と台内枠との間に挟み込まれかつ台内枠の一端側を閉塞するX線透過性シートとからなる試料セル台を着脱自在に設け、この試料セル台に前記試料セルを保持させるようにしたことを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 23/223
, G01N 1/28 W
