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J-GLOBAL ID：200903070024788516

マーク認識装置およびマーク認識方法

Inventor： 宇野 真彦 ,  山田 尚道 ,  火原 辰則
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 高田 守 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994260210
Publication number (International publication number)：1996122267
Application date： Oct. 25, 1994
Publication date： May. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 マーク認識装置において、類似マークと誤判定しない為のしきい値の作成の困難を解消する。【構成】 学習対象のマークを撮像して得た画像データを多次元の入力信号ベクトルに縮退させ、予め記憶した複数の参照ベクトルのどれに一番近いかベクトル量子化技術により検出する。一番近い参照ベクトルを入力信号ベクトルに更に近付けるよう更新して学習を行なう。学習後の参照ベクトルを使ってマークの良否の判定を行なう。良否の判定は、マークから得た入力信号ベクトルと学習後の参照ベクトルとの距離をしきい値とを比較して行なう。【効果】 代表的なマークのパターンについての学習を行なった後にマークの良否判定を行なうよにしたので、従来はマニュアルで行なっていたしきい値の調整作業を簡略化できる。

Claim (excerpt)：

対象に記されたマークを撮像して画像データを得る撮像手段と、前記画像データに基づいて入力信号ベクトルを発生する手段と、前記入力信号ベクトルと予め記憶した複数の参照ベクトルとの距離を計算する距離計算手段と、この距離計算手段で得られた距離をしきい値と比較してマークの良否を判定する判定手段と、入力信号ベクトルとの距離が最小となる参照ベクトルを入力信号ベクトルとの距離を更に小さくするよう変更する参照ベクトル更新手段とを備えたマーク認識装置。

IPC (5)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06K 7/00 ,  G06K 7/10 ,  G06K 9/68

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• パターン認識用辞書作成方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-161394   Applicant：エヌ・テイ・テイ・データ通信株式会社
• 特開平2-268388
  
• 特開平4-077888
  
• 特開平2-017588