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J-GLOBAL ID：200903070070552870

画像による円形穴の測定における画像処理方法

Inventor：
青木 健一

About 青木 健一

, 
鈴木 務

About 鈴木 務


Applicant, Patent owner：
株式会社モリテックス

About 株式会社モリテックス


Agent (1)： 三觜 晃司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002113396
Publication number (International publication number)：2003307413
Application date： Apr. 16, 2002
Publication date： Oct. 31, 2003
Summary：
【要約】【課題】光部品であるフェルール等における円形穴の真円度等の測定を、撮像装置により撮像した画像を処理して行う際、従来の画像処理方法では、ごみ等の異物の影響を受け易く、正確な真円度の測定が困難である。【解決手段】そこで本発明では、撮像した画像から円形穴の内周の輪郭線を抽出して、その直交座標データを得て、これらのデータから回帰円の中心座標と半径を算出すると共に、この回帰円の円周方向に沿って配列した多数の上記抽出点の、回帰円の半径方向の値の列に対して、円周方向の所定以下のデータ間隔において、値が小さいデータを均す包絡線処理を行い、包絡線処理後の各補正データに対して再度回帰円を算出して、その中心座標を算出し、この算出した回帰円の中心から各補正データの距離を求め、その最大値と最小値により真円度を算出することを特徴とする画像による円形穴の測定における画像処理方法
Claim (excerpt)：
撮像装置により対象物の円形穴を撮像して、その画像から円形穴の内周の輪郭線を抽出して、輪郭線に沿った多数の抽出点の二次元の直交座標データを得て、これらの多数の抽出点の直交座標データから回帰円の中心座標と半径を算出すると共に、この回帰円の円周方向に沿って配列した多数の上記抽出点の、上記回帰円の半径方向の値の列に対して、円周方向の所定以下のデータ間隔において、値が小さいデータを均す包絡線処理を行い、包絡線処理後の各補正データに対して上記回帰円の中心からの距離を求め、その最大値と最小値により真円度を算出することを特徴とする画像による円形穴の測定における画像処理方法
IPC (3)：
G01B 11/30 101 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24
FI (3)：
G01B 11/30 101 B ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K
F-Term (17)：
2F065AA03 ,  2F065AA17 ,  2F065AA27 ,  2F065AA48 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB16 ,  2F065CC00 ,  2F065DD13 ,  2F065FF42 ,  2F065JJ03 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ32
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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