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J-GLOBAL ID:200903070070659747
放射率測定方法及びその装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
角田 嘉宏 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001400398
Publication number (International publication number):2003194629
Application date: Dec. 28, 2001
Publication date: Jul. 09, 2003
Summary:
【要約】【課題】 被検体の放射率を簡便に測定することができる放射率測定方法及びその実施に使用する放射率測定装置を提供する。【解決手段】 測定室6の内部に被検体7を配置し、測定室6の観測窓5を介して、被検体7を夫々臨むように2色放射温度計1の本体部1c及び単色放射温度計2の本体部2cを配置する。2色放射温度計1が出力する被検体7の温度の検出結果と、単色放射温度計2が出力する被検体7の予測温度とが略一致するまで、操作パネル2bから被検体7の予測放射率を変化させながら入力する。2色放射温度計1による検出温度と、単色放射温度計2による予測温度とが略一致したときの予測放射率を、被検体の放射率とする。
Claim (excerpt):
被検体の相異なる2つの波長での分光放射発散度に基づいて、被検体の温度を検出し、前記被検体の予測放射率と、前記被検体の所定の波長での分光放射発散度とに基づいて求められる被検体の予測温度が、検出した温度と略一致するまで、前記被検体の予測放射率を変化させ、求めた予測温度と、検出した温度とが略一致したときの前記予測放射率を、前記被検体の放射率とすることを特徴とする放射率測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01J 5/00 B
, G01J 5/60 Z
F-Term (10):
2G066AB06
, 2G066AC20
, 2G066BA01
, 2G066BA08
, 2G066BA11
, 2G066BB01
, 2G066BC07
, 2G066BC15
, 2G066CA11
, 2G066CA15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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単色放射温度計の較正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-097465
Applicant:芝浦メカトロニクス株式会社
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特開平1-315134
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半導体製造方法及び製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-174624
Applicant:富士通株式会社
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