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J-GLOBAL ID：200903070169050191

フィルムの中の欠点分析方法

Inventor： 細井 正広 ,  名越 民明
Applicant, Patent owner： 帝人株式会社
Agent (1)： 前田 純博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998089960
Publication number (International publication number)：1999287767
Application date： Apr. 02, 1998
Publication date： Oct. 19, 1999
Summary：

【要約】【課題】 溶液からフィルムを製造する際にフィルムに発生する各種の異物を溶液の段階で迅速に測定して、異物によるフィルム欠点を容易に解消する方法を提供する。【解決手段】 溶液に光線を投射することによって、その反射光により、溶液の持っている異物の像を得、この像を処理解析して、この溶液を使用して溶液流延法によって製造されるフィルム中の欠点を分析する。

Claim (excerpt)：

溶液に光線を投射し、当該光線の投射方向に対し90±15 ゚を成す面上の方向から異物による当該光線の反射を観察することにより、溶液が含んでいる異物の像を得ることを特徴とする、当該溶液の溶液流延法によるフィルム中の欠点分析方法。

IPC (5)：

G01N 21/89 ,  B29C 41/24 ,  B29C 41/52 ,  B29K 69:00 ,  B29L 7:00

FI (3)：

G01N 21/89 A ,  B29C 41/24 ,  B29C 41/52