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J-GLOBAL ID:200903070190565053

加熱体及びこれを用いた半導体製造装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 好宮 幹夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997240472
Publication number (International publication number):1999067740
Application date: Aug. 21, 1997
Publication date: Mar. 09, 1999
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 エッチングガスやプラズマに侵され難く、パーティクルやコンタミネーションを発生することがないと共に、寿命が長く、強度の高い加熱体とこの加熱体を配備した半導体製造装置を提供する。【解決手段】 少なくとも反応室内に半導体シリコンウエーハを配置し、これを加熱しつつ処理を加える半導体製造装置に用いられる、半導体シリコンウエーハを加熱するための基材と導電層からなる加熱体において、該基材の材質をシリコンとした加熱体および該加熱体を用いた半導体製造装置。
Claim (excerpt):
少なくとも反応室内に半導体シリコンウエーハを配置し、これを加熱しつつ処理を加える半導体製造装置に用いられる、半導体シリコンウエーハを加熱するための基材と導電層からなる加熱体において、該基材の材質がシリコンであることを特徴とする加熱体。
IPC (4):
H01L 21/3065 ,  H01L 21/203 ,  H01L 21/205 ,  H05B 3/14
FI (4):
H01L 21/302 B ,  H01L 21/203 S ,  H01L 21/205 ,  H05B 3/14 D
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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