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J-GLOBAL ID：200903070296506633

減衰率補正方法及び分光光度計

Inventor： 櫛田 芳昭 ,  鈴木 忠 ,  河原井 直美 ,  江畠 佳定 ,  佐藤 節子
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立サイエンスシステムズ
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000016569
Publication number (International publication number)：2001208679
Application date： Jan. 26, 2000
Publication date： Aug. 03, 2001
Summary：

【要約】【課題】減光板を使用する測定を正確かつ容易に行える減衰率補正方法及び分光光度計を提供することにある。【解決手段】光源W1,D2からの光は、分光器MO1,MO2によって分光された後、サンプル光と対照光にする分岐し、光検出器PMTによって検出される。データ処理部DPは、光検出器PMTによって検出されたサンプル信号と対照信号とからサンプルの透過率を求めるに際して、対照光路に挿入された減光板の所定の波長について減衰率を求めて記憶し、サンプルの測定結果に対してこの記憶された減衰率を用いて補正する。

Claim (excerpt)：

対照光路に挿入された減光板の所定の波長について減衰率を求めて記憶し、サンプルの測定結果に対してこの記憶された減衰率を用いて補正した補正結果を求める減衰率補正方法。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/02

FI (2)：

G01N 21/27 F ,  G01J 3/02 C

F-Term (35)：

2G020CB05 ,  2G020CB25 ,  2G020CB33 ,  2G020CB43 ,  2G020CB51 ,  2G020CC02 ,  2G020CC13 ,  2G020CC31 ,  2G020CC42 ,  2G020CC48 ,  2G020CC51 ,  2G020CD23 ,  2G020CD34 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G020CD51 ,  2G020CD56 ,  2G059AA10 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF06 ,  2G059FF09 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK02 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059MM17 ,  2G059PP04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 光測定器における被測定光の波長検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-274716   Applicant：安藤電気株式会社
• 特開昭62-090524
  
• 調整可能な励起及び/又は調整可能な検出マイクロプレートリーダー
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-276948   Applicant：バイオ-ラッドラボラトリーズ,インコーポレイティド