Pat

J-GLOBAL ID：200903070310334255

赤外線測定装置

Inventor： 菱刈 功 ,  石毛 光雄
Applicant, Patent owner： 株式会社チノー
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996182768
Publication number (International publication number)：1998009953
Application date： Jun. 24, 1996
Publication date： Jan. 16, 1998
Summary：

【要約】【課題】簡易な構成で、高信頼性の測定が可能な赤外線測定装置を提供することである。【解決手段】被測定対象Bを撮影して赤外線画像を得るための赤外線撮像装置1と、この赤外線撮像装置1の撮影範囲内の所要箇所に設けられた少なくとも1個以上の温度センサ41、42又は疑似熱源5と、この温度センサ又は疑似熱源による温度値と前記赤外線撮像装置の温度値との比較を行う処理手段2とを備えるようにした赤外線測定装置である。

Claim (excerpt)：

被測定対象の赤外線画像を得るための赤外線撮像装置と、この赤外線撮像装置の撮影範囲内の所要箇所に設けられた少なくとも1個以上の温度センサ又は疑似熱源と、この温度センサ又は疑似熱源による温度値と前記赤外線撮像装置の温度値との比較を行う処理手段とを備えたことを特徴とする赤外線測定装置。

IPC (3)：

G01J 1/42 ,  G01J 1/44 ,  H04N 5/33

FI (4)：

G01J 1/42 B ,  G01J 1/42 C ,  G01J 1/44 D ,  H04N 5/33