光線路検査方法及び光線路検査システム

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995069554
Publication number (International publication number)：1996271375
Application date： Mar. 28, 1995
Publication date： Oct. 18, 1996
Summary：

【要約】【目的】少ない光導波路型回折格子から構成される光フィルタを用いた光線路検査方法を提供する。【構成】本発明の光線路検査方法では、発光部(10)が約20nm以下の波長幅の検査光を出力し、この検査光を用いて光線路の検査が行われるので、光線路(3)の終端部に設けられた光フィルタ(60)の反射波長幅を十分に狭くできる。これにより、光フィルタ(60)を構成する光導波路型回折格子の数を少なくすること可能となり、モードミスマッチやOH基の吸収による信号光の伝送損失を低減して、光通信に与える影響を十分に抑えた光線路の検査を行うことができる。

Claim (excerpt)：

検査すべき光線路であってその終端部に光フィルタが設けられたものに検査光を入射させ、前記光線路の各部及び前記光フィルタにおいて反射又は散乱された前記検査光を検出することにより前記光線路の状態を検査する方法であって、前記光フィルタは、互いに異なる周期を有する一以上の光導波路型回折格子から構成されるものであり、前記検査光の波長幅は、約20nm以下であることを特徴とする光線路検査方法。

IPC (2)：

G01M 11/00 , G01M 11/02

FI (2)：

G01M 11/00 R , G01M 11/02 J

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

光線路の識別及び監視方法並びに装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-167957 Applicant：日本電信電話株式会社
波長可変モード同期レーザ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-040195 Applicant：日本電信電話株式会社
特開平1-187889

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