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J-GLOBAL ID:200903070350968516

大気環境調査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中本 宏 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992265537
Publication number (International publication number):1994094654
Application date: Sep. 09, 1992
Publication date: Apr. 08, 1994
Summary:
【要約】【目的】 大気環境を容易に評価する方法を提供する。【構成】 表面が平滑な基板上に単体金属及び合金の少なくとも1種を成膜した板を測定したい大気中に保持し、この金属表面に生成した大気中元素を分析する、大気環境の調査方法。分析手段としては(全反射)蛍光X線分析法等がある。特に大気中の硫黄及び塩素の分析に有用である。【効果】 通信機器やOA機器等への大気の影響を温度、湿度の効果まで取り入れた実際に近い状態で容易、短期間にかつ高精度に把握することが可能である。
Claim (excerpt):
表面が平滑な基板上に単体金属及び合金の少なくとも1種を成膜した板を測定したい大気中に保持し、この金属表面に生成した大気中元素を分析することを特徴とする大気環境の調査方法。

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