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J-GLOBAL ID：200903070375565343
配向膜評価装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三好 秀和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993353763
Publication number (International publication number)：1995198592
Application date： Dec. 29, 1993
Publication date： Aug. 01, 1995
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、ラビングされた配向膜を適切に評価することのできる液晶配向膜評価装置を提供することを目的とする。【構成】 高分子膜にラビング処理を施し形成した配向膜に、当該配向膜の特性吸収波長で、かつ当該配向膜のラビング方向と膜面の法線方向とがなす平面に略平行な偏光光をこの平面内で、当該法線方向に対して異なる2方向から照射する偏光光照射手段と、この偏光光照射手段で当該配向膜を照射して得られる透過光を検出する検出手段と、この検出手段で得られるそれぞれの方向からの透過光の差から当該配向膜の評価を行なう評価手段とを備えて構成される。
Claim (excerpt)：
高分子膜にラビング処理を施し形成した配向膜に、当該配向膜の特性吸収波長で、かつ当該配向膜のラビング方向と膜面の法線方向とがなす平面に略平行な偏光光をこの平面内で、当該法線方向に対して異なる2方向から照射する偏光光照射手段と、この偏光光照射手段で当該配向膜を照射して得られる透過光を検出する検出手段と、この検出手段で得られるそれぞれの方向からの透過光の差から当該配向膜の評価を行なう評価手段とを有することを特徴とする配向膜評価装置。
IPC (3)：
G01N 21/21
, G01M 11/00
, G02F 1/1337
